SK海力士深耕HBM先进封装,技术布局直击AI核心痛点
* 来源 : * 作者 : admin * 发表时间 : 2025-11-18
SK海力士近年来围绕高带宽内存(HBM)与DRAM的先进封装技术展开系统性研究,聚焦2.5D/3D SiP集成、热管理、堆叠工艺与可靠性优化,旨在解决AI与高性能计算(HPC)场景下面临的带宽、散热与密度瓶颈。
其技术路线清晰分为两条主线:短期以MR-MUF工艺为主,通过优化树脂材料与贴装顺序,成功实现8Hi HBM堆叠,结温降低14℃,并通过JEDEC全项可靠性测试;长期则押注混合键合技术(C2W/W2W),将凸点间距缩小、堆叠高度降低15%,热阻降至传统工艺的20%以下,并首次验证W2W混合键合在商用DRAM中的可行性。
面向HBM4及未来世代,SK海力士正推进2048位宽接口、近内存计算(Near-Memory Processing)与SERDES IP集成等架构创新。所有研究成果均强调量产兼容性与良率稳定性,体现出极强的工程落地能力。未来,如何应对16Hi以上超高堆叠带来的薄晶圆处理、大尺寸中介层良率及颗粒污染控制,将成为技术攻坚的关键方向。
其技术路线清晰分为两条主线:短期以MR-MUF工艺为主,通过优化树脂材料与贴装顺序,成功实现8Hi HBM堆叠,结温降低14℃,并通过JEDEC全项可靠性测试;长期则押注混合键合技术(C2W/W2W),将凸点间距缩小、堆叠高度降低15%,热阻降至传统工艺的20%以下,并首次验证W2W混合键合在商用DRAM中的可行性。
面向HBM4及未来世代,SK海力士正推进2048位宽接口、近内存计算(Near-Memory Processing)与SERDES IP集成等架构创新。所有研究成果均强调量产兼容性与良率稳定性,体现出极强的工程落地能力。未来,如何应对16Hi以上超高堆叠带来的薄晶圆处理、大尺寸中介层良率及颗粒污染控制,将成为技术攻坚的关键方向。






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